
台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试电压2.5/3.0/3.3/5V DC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试时间高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪支持4000和5000系列CMOS。
台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-特点:
GUT-6000B循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
GUT-6000B测量1800种设备
支持54/74系列TTL
GUT-6000B测试管脚:28  pin
台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-技术参数:
| 测试范围 | |
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 | 54/74 系列 TTL | 
| 4000 及 4500 系列 CMOS | |
| DRIVE | |
| 量测种类 | |
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 | 约 1800 种 | 
| 测试电压 | |
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 | 2.5/3.0/3.3/5V DC | 
| 测试时间 | |
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 | 高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC | 
| 使用电源 | |
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 | 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | 
| 尺寸及重量 | |
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 | 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm | 
| 约 1.5 公斤 | |