台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试电压2.5/3.0/3.3/5V DC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试时间高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪支持4000和5000系列CMOS。
台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-特点:
GUT-6000B循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
GUT-6000B测量1800种设备
支持54/74系列TTL
GUT-6000B测试管脚:28 pin
台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-技术参数:
测试范围 |
|
|
54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS |
|
DRIVE |
|
量测种类 |
|
|
约 1800 种 |
测试电压 |
|
|
2.5/3.0/3.3/5V DC |
测试时间 |
|
|
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC |
使用电源 |
|
|
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 |
|
|
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |
约 1.5 公斤 |