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台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪

台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪

产地:台湾
品牌:台湾固纬
厂商公开价:0元
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产品相关描述

产品描述

台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试电压2.5/3.0/3.3/5V DC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪测试时间高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC,台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪支持4000和5000系列CMOS。 

台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-特点:

GUT-6000B循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
GUT-6000B测量1800种设备
支持54/74系列TTL
GUT-6000B测试管脚:28 pin

技术参数

台湾固纬GUT-6000B数字IC测试仪-技术参数:

测试范围

 

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类

 

约 1800 种

测试电压

 

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间

 

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源

 

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

 

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

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