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美国GE超声波探伤仪单晶直探头

 

美国GE超声波探伤仪单晶直探头-特点:

  • 被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
  • 接触面或平或曲
  • 缺陷或底面平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
  • 适于穿透后部件
  • 延迟块用以提高近场分辨率
  • 需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
  • 通常用于手动检测

美国GE超声波探伤仪单晶直探头-分类:

类型 订购号码 D(mm) f(MHZ) N(mm)
B1S 57744 24 1 23
B1S-EN 500035 24 1 23
B1S-O 57755 24 1 23
B2S 57745 24 2 45
B2S-EN 500036 24 2 45
B2S-O 57756 24 2 45
B2S-O-EN 500267 24 2 45
B4S 57746 24 4 88
B4S-EN 500037 24 4 88
B4S-O 57757 24 4 88
B4S-O-EN 500268 24 4 88
B5S 57747 24 5 110

美国GE超声波探伤仪单晶直探头-(小尺寸探头)分类:

类型 订购号码 D(mm) f(MHZ) N(mm)
MB2S 57748 10 2 8
MB2S-EN 500038 10 2 8
10 2 10 2 8
MB4S 57749 10 4 16
MB4S-EN 500039 10 4 16
MB4S-O 57976 10 4 16
MB5S 57750 10 5 20
MB5S-O 57977 10 5 20

备注:

保护膜(一套=10片) ES45(53756) 用于 B..S系列

           ES24(53769) 用于 MB..S系列

 

探头线: PKLL2(50326) 用于 B..S系列

     MPKLL2(50486) 用于 MB..S系列

 

如需了解更多关于美国GE超声波探伤仪直探头信息,可来电咨询021-67677060

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